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NIHON UNIVERSITY's 
College of Engineering 
Department of Electrical and Electronic Engineering 

Updated : 2019/06/27 
Professor 
IKEDA Masanori 

 

Career (Number of the published data : 6)
富士通株式会社  1985/04-1990/03 
Research Assistant  1990/04-1995/03 
Lecturer  1995/04-2002/03 
Associate Professor  2002/04-2006/03 
Associate Professor  2006/04-2012/03 
Professor  2012/04-Present 

Academic background (Number of the published data : 2)
Nihon University  Faculty of Science and Engineering  Department of Electronic engineering  1983  Graduated  Domestic 
Nihon University  Graduate School, Division of Science and Engineering  電子工学  Doctor prophase  1985  Completed  Domestic 

Academic degrees (Number of the published data : 2)
Master of Engineering  Nihon University 
Doctor of Engineering  Nihon University 

Research Areas (Number of the published data : 3)
Surface Physics 
Thin Film and Surface Interface Physical Properties 
Electronic and Electric Materials Engineering 

Research keywords (Number of the published data : 8)
Electronic and Electric Materials Engineering 
Surface Physics 
Ta2O5 
Nb2O5 
陽極化成 
silicon surface 
oxidation 
STM 

Subject of research (Number of the published data : 4)
陽極化成Ta2O5,Nb2O5薄膜の電気伝導機構  2001-Present 
表面光電圧法による半導体表面の評価  2002-Present 
The process of initial oxidation on silicon surface  2006-Present 
交流光電圧法による半導体シリコン薄膜の結晶性評価  2010-Present 
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Bibliography (Number of the published data : 1)
基礎からの半導体工学  日新出版  2003/04/30 
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Papers (Number of the published data : 42)
Au水溶液浸漬によるAu/n-Si(100)ショットキー障壁の形成  表面科学  2012/03 
表面光電圧を用いた新しい多結晶シリコン薄膜の結晶粒径評価法  電子情報通信学会誌C  2012/02 
Alternating current surface photovoltage in thermally oxidized chromium-contaminated n-type silicon wafers  Applied Physics A  2011/05 
表面光電圧法による多結晶シリコン薄膜の結晶性評価  日本大学工学部紀要  2011/03 
Au/PMMA/Ta構造の電流-電圧特性と電気伝導  日本大学工学部紀要  2011/03 
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Research presentations (Number of the published data : 187)
Poster presentation  金属誘起結晶化法で作製したSi薄膜の表面光電圧測定  2018年日本表面真空学会学術講演会  2018/11/19 
Oral presentation(general)  MIC法で作製したSi薄膜の表面光電圧測定  2017年(平成29年)応用物理学会東北支部第72回学術講演会  2017/11/30 
Poster presentation  O2暴露により生じるSi(100)-(2×1)表面構造変化の温度依存性  2017年真空・表面合同講演会第37回表面科学学術講演会  2017/08/17 
Poster presentation  走査型トンネル顕微鏡によるSi(100)-(2×1)表面の初期酸化過程観察  平成28年度日本表面科学東北・北海道支部学術講演会  2017/03/09 
Poster presentation  交流表面光電圧法による熱酸化したSiにおける酸化膜電荷の評価  2016年真空・表面合同講演会第36回表面科学学術講演会  2016/11/30 
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Intellectual property rights (Number of the published data : 1)
Patent  シリコン半導体薄膜の結晶性評価装置及び結晶性評価装置 
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Other research achievements (Number of the published data : 2)
マイクロ波光導電減衰法および表面光電圧による半導体シリコンの評価 〜金属原子の挙動と汚染計測〜  2006/07/14-2006/07/14 
超高集積化半導体デバイス対応の誘電体薄膜及び半導体表面科学に関する研究  2004/11/12-2004/11/12 
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Alloted class (Number of the published data : 10)
工科系数学Ⅴ 
電気工学 
電気電子製作実習 
電気電子基礎実験Ⅰ 
半導体デバイス特論 
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Memberships of academic societies (Number of the published data : 3)
電子情報通信学会 
日本表面科学会 
応用物理学会 
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