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日本大学 
生産工学部 
数理情報工学科 

更新日:2019/11/02 
教授 
細川 利典 
ホソカワ トシノリ 
HOSOKAWA Toshinori 

1964年生まれ  
 
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経歴 (公開件数:3件)
松下電器産業株式会社  1987/04-2003/08 
株式会社 半導体理工学研究センター(出向)  2000/04-2003/06 
明治大学 (兼任講師)  2001/04-2003/03 

学歴 (公開件数:1件)
明治大学  工学部  電子通信工学科  1987  卒業 

学位 (公開件数:1件)
博士(工学)  明治大学大学院理工学研究科  2001/06/25 

研究分野 (公開件数:2件)
計算機システム・ネットワーク 
電子デバイス・電子機器 

研究キーワード (公開件数:27件)
システムエルエスアイ 
テスト 
キャド 
ハードウェア・ソフトウェア協調設計 
テストパターン 
n回検出 
縮退故障 
欠陥検出率 
テスト容易化設計 
レジスタ・トランスファーレベル 
テストプラン 
FSM 
Fault Independent 
Fault dependent 
State transition Coverage 
1 pattern test 
2 pattern test 
動作合成 
テスト容易化バインディング 
テスト容易化スケジューリング 
割当決定グラフ 
テスト生成 
低消費電力 
テスト圧縮 
欠陥検出率 
トロイ検出 
論理暗号化 

研究テーマ (公開件数:9件)
n回検出テスト生成方法  2003-2005 
システムLSIのテスト容易化設計方法  2003-現在 
レジスタ・トランスファー・レベルにおけるテスト生成・テスト容易化設計法  2004-現在 
テスト容易化動作合成  2009-現在 
特殊用途向け高品質・低コストテスト生成法  2009-現在 
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共同・受託研究実績 (公開件数:5件)
SoCのテスト容易化設計  2017-2019 
動作合成ツールを利用した階層テスト方式の研究開発  2005-2006 
システムLSIのテスト容易化設計  2003-2004 
Vコアベーステスト容易化設計技術  2000-2002 
RTレベルテスト容易化設計方法  1996-1997 
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著書 (公開件数:2件)
知識ベース 知識の森  電子情報通信学会  2010/01/01 
VLSI Logic Synthesis and Design  IOS Press, Ohmsha  1991 
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論文 (公開件数:93件)
A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation  IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems  2017/09/01 
A Don't Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT  IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences  2017/12/01 
A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method Based on X-bit Distribution  IEICE Transactions on Information and Systems  2013/09/15 
A Fault Dependent Test Generation Method for State-Observable FSMs to Increase Defect Coverage under the Test Length Constraint  IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems  2010/01/15 
故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法  電子情報通信学会論文誌D(情報・システム)  2007/06 
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研究発表 (公開件数:166件)
口頭発表(一般)  n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会  2019/10/24 
口頭発表(一般)  Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法  DAシンポジウム2019  2019/08/30 
口頭発表(一般)  RTLにおけるコントローラの論理暗号化手法  DAシンポジウム2019  2019/08/30 
口頭発表(一般)  MAX-SAT と両立故障グラフを用いたM バイN テスト圧縮法  第81回FTC研究会  2019/07/19 
口頭発表(一般)  テスト容易化機能的時間展開モデルのテスタビリティ尺度の評価  第81回FTC研究会  2019/07/18 
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知的財産権 (公開件数:28件)
特許  論理回路のテスト容易化方法 
特許  Method of test sequence generation 
特許  Method and apparatus for performing automatic test pattern generation 
特許  Test sequence generation method 
特許  検査入力生成方法および検査容易化設計方法 
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受賞 (公開件数:1件)
Best Paper Award  2015/11/25  国外 
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担当授業科目 (公開件数:23件)
アルゴリズムとデータ構造 
アルゴリズムとデータ構造演習 
ソフトウェア構築及び演習 
情報論理特講 
アルゴリズム特講 
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所属学協会 (公開件数:3件)
情報処理学会 
電子情報通信学会 
IEEE 
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委員歴 (公開件数:4件)
情報処理学会  情報処理学会論文誌TSLDM(Transactions on System LSI Design Methogology)編集委員  2011/04/01-2015/03/31 
電子情報通信学会  ディペンダブルコンピューティング研究専門委員  2009/01/01-現在 
電子情報通信学会  電子情報通信学会和文論文誌D編集委員  2006/05/25-2010/05/25 
電子情報通信学会  ディペンダブルコンピューティング研究会幹事  2005/04/01-2008/03/31 
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